Système de test pour pilotes d'affichage

8th August 2017
Posted By : Alice Matthews
Système de test pour pilotes d'affichage

 

Fournisseur d’équipements de pour les semi-conducteurs, Advantest, a lancé le dispositif de Type 3 RND440, évolution en option de son testeur pour circuits intégrés de pilotes d'affichage (DDI) T6391 qui rend le système capable de tester massivement en parallèle les modules à puce sur bande (CoF) destinés à la toute dernière génération d'écrans de smartphones.

Ce dispositif est conçu pour gérer le nombre croissant de broches dont sont équipés les DDI, les débits croissants des interfaces et les fonctions à haute intégration qui font fonctionner les écrans à haute résolution.

Les terminaux mobiles sont passés de l'utilisation de circuits intégrés traditionnels de type puce sur verre (CoG) à des dispositifs plus évolués de type puce sur bande (CoF) pour plusieurs raisons. Par exemple, les smartphones d'aujourd'hui commencent à intégrer des écrans OLED à bordures arrondies, ce qui nécessite des modules CoF.

Avec les modules CoF, d’autres nouveautés amènent la nécessité de meilleures solutions de test. Celles-ci comprennent le nombre croissant de lignes de sortie pour les DDIs utilisés dans les smartphones, tablettes, ordinateurs portables et autres produits à écrans LCD ainsi que l'utilisation croissante de circuits intégrés pour pilotes d’écran tactile intégré (TDDI).

Le nouveau RND440 Type 3 peut réaliser à la fois des tests sur des wafers à nombre élevé de broches et à haut débit ainsi que des essais sur CoF, également appelés essais sur bande. Il est à même de tester tous les éléments électriques à l'intérieur d'un package CoF, qui comprennent un circuit intégré monté sur film de base, plusieurs éléments passifs et des circuits d'entrée de signaux destinés à recevoir et à émettre des données. Le dispositif fonctionne avec des substrats de 440 mm et son aptitude aux tests massivement parallèles double le débit des systèmes mono-puce disponibles sur le marché.

« Le système T6391 est le seul système de test de modules hautement parallèles pour DDIs et TDDIs, » a déclaré Satoru Nagumo, vice-président exécutif d’ADS Business Group chez Advantest Corporation. « Notre solution de tests confère aux utilisateurs un énorme avantage en productivité et le plus bas coût de test disponible pour les DDIs et les TDDIs soit en environnement de production, soit en engineering. »

Le système T6391 d'Advantest fait appel au même modèle d'environnement technique et au même langage de programmation TDL que les autres membres de la série de produits T6300 tout en accélérant le transfert des données et le calcul. C'est la seule plateforme capable de tester des fonctions de capteurs tactiles et des fonctions de circuits intégrés à gestion d’alimentation (PMIC) intégrés aux DDIs. Elle peut accueillir des DDIs haute résolution à 3584 broches maximum, suffisantes pour tester les écrans à cristaux liquides utilisés dans les écrans à haute définition pleine (HD), WXGA et HD720.

Un T6391 autonome peut gérer des fréquences de broches E/S pouvant aller jusqu'à 1,6 gigabits par seconde alors que l'ajout d'un module de mesure élaboré lui permet de tester des interfaces allant jusqu'à 6,5 Gbits/s, qui seront utilisées sur les DDIs pour les téléviseurs à ultra-haute définition, génération 4K compatible (2160 p).


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