Chipsets NB-IoT sont supportées par la solution de test sans fil

Posted By : Enaie Azambuja
Chipsets NB-IoT sont supportées par la solution de test sans fil

Anritsu a le plaisir d’annoncer que Huawei vient d’adopter la plateforme de test sans fil et ultra rapide MT8870A pour ses tests de calibration et de validation RF. Le testeur sans fil universel offre la compatibilité avec les chipsets NB-IoT Hi2110 et Hi2115, conçus pour les cas d’utilisation de l’IoT. Les méthodes de vérification de la connectivité et des communications cellulaires des séries MT88xx d’Anritsu, éprouvées depuis longtemps, permettent à Huawei d’améliorer la qualité de ses produits et l’efficacité de sa production.

« Le testeur sans fil d’Anritsu offre aux fournisseurs de modules et composants IoT une solution complète de calibration et de vérification RF pour la technologie sans fil embarquée », explique Hirokazu Hamada, président de la division Mesures du groupe Anritsu.

« Les chipsets Hisilicon et le logiciel de test automatisé, associés aux solutions de test RF du MT8870A, vont permettre, de disposer de l’un des temps de test les plus rapides du marché tout ceci avec un coût de possession très attractif sur le marché des objets connectés sans fil qui est extrêmement concurrentiel. »

« Anritsu nous offre la capacité de calibrer et valider de manière complète nos chipsets, tant au stade de la R&D que pendant la phase de production, en respectant nos exigences de précision et de répétabilité. », souligne Huawei.

« Cet équipement est déjà utilisé avec succès par certains de nos clients de pointe, afin de respecter les exigences de fabrication et les attentes en matière de disponibilité. Grâce au testeur sans fil MT8870A d’Anritsu la procédure de calibration et de vérification RF des composants NB-IoT est mieux assurée. »

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