Microscope acoustique présenté au salon ENOVA Paris

25th September 2017
Source: Metronelec
Posted By : Alice Matthews
Microscope acoustique présenté au salon ENOVA Paris

Pendant le salon ENOVA Paris qui s'est tenu du 19 au 21 septembre 2017, METRONELEC était à votre disposition pour vous présenter et vous permettre de tester le microscope acoustique haute résolution pour l'analyse non destructive de délamination, crack, voids et interfaces. Complémentaire aux équipements RX, le microscope acoustique C-SAM permet d’analyser des défauts avec une plus grande précision.

Nouvelle génération SONOSCAN, le modèle Gen6 possède des performances supérieures permettant l’analyse de packages complexes avec une très grande résolution.

Le Gen6 a la capacité de scanner l’ensemble du composant monté sur cartes ou du wafer en une seule fois et ce pour des tailles allant jusqu’à 300 mm. Une mesure du warpage peut être réalisée durant le scan grâce au contrôle dynamique en Z.

Plusieurs options brevetées sont disponibles :

  • Le « waterPlume Scan » où la sonde est inversée et couplée avec une colonne d’eau permet d’augmenter les cadences
  • Le « waterFall transducer » où la sonde est couplée avec une « chute d’eau » permet d’améliorer le process d’analyse SONOSCAN possède la maîtrise de fabrication des sondes et propose une gamme à la fois large dans le choix mais avec un minimum de 3 sondes. SONOSCAN s’adapte ainsi à vos demandes pour vos applications.

Ce nouvel équipement est aussi bien destiné aux laboratoires pour de l’expertise ou du contrôle qualité qu’à la production de faibles volumes.

En plus d’être équipé d’innovations principales, l’ergonomie du modèle Gen6 de chez SONOSCAN a été soigneusement conçu pour l’utilisateur.

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