Analyseurs de réseaux ont des fonctions avancées d’extraction

Posted By : Alice Matthews
Analyseurs de réseaux ont des fonctions avancées d’extraction

Afin d’offrir aux ingénieurs un plus large choix en matière de calibrage pour Wafer et Intégrité de signal, Anritsu a introduit l’option UFX (Universal Fixture Extraction) pour ses analyseurs de réseaux vectoriels VectorStar. Cette option permet de résoudre les problématiques liés au concept d’extraction (De Embedding) de réseau pour la mesure pour de dispositifs haute-fréquences ou bien des dispositifs haut-débits que l’on trouve dans les systèmes Télécoms 100G ou la nouvelle génération 5G.

Les techniques de calibrage pour obtenir une solution de test entièrement corrigé demandent de disposer des étalons pour chacun des ports (interfaces) du montage de test. Dans certains environnements l’accès ou la disponibilité des étalons pour le calibrage n’est pas possible, la méthode traditionnelle consiste à ignorer les problématiques ou supposer qu’une partie du dispositif de test est symétrique avec une adaptation parfaite. Mais ce scénario étant improbable, l’utilisation des techniques précédentes conduit à des erreurs d’extraction et de mesure. L’option UFX offre des outils avancés pour réaliser la fonction d’Extraction (De-Embedding), permettant aux ingénieurs d’ajouter de manière incrémentielle des étalons et des données caractéristiques au fur et à mesure qu’elles sont disponibles, ceci permet de donner une meilleure précision lors de l’extraction des paramètres d’un réseau.

Pour faciliter l’analyse des défauts isolés dans le montage de test, l’option UFX inclut une fonction de Sequential Peeling. Les ingénieurs peuvent générer un fichier .sNp pour une partie d’un montage de test, ceci est basé sur la correspondance des fonctions de phase. Cette fonction offre davantage d’informations détaillées sur le montage, représentant une opportunité d’améliorer facilement la conception du montage de test.

L'option UFX étend les excellentes possibilités du VNA VectorStar, afin d’optimiser la mesure sur wafer et d’effectuer des mesures pour les systèmes de transmission de données hauts débits. Les produits VectorStar d’Anritsu utilisent la technologie brevetée NLTL (Non-Linear Transmission Line) pour offrir la plus large couverture, allant de 70 kHz à 145 GHz avec un seul balayage. Ces analyseurs de réseau vectoriel affichent les performances nécessaires pour les ingénieurs en recherche et développement, pour concevoir de manière fiable et précise des composants de dernières technologies.

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